Tel:86(10)-82251642 / 82251833 / 82252778

产品中心

Products

单点开尔文探针

您当前的位置: 首页 >产品中心 >功函数测试 >单点开尔文探针

单点开尔文探针

特点

开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势,表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术,KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。