Tel:86(10)-82251642 / 82251833 / 82252778

产品中心

Products

功函数测试

您当前的位置: 首页 >产品中心 >功函数测试

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)

单点开尔文探针

扫描开尔文探针

超高真空开尔文探针

环境控制开尔文探针