Tel:86(10)-82251642, 82251833

产品中心

Products

显微薄膜测厚仪

特点

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化